產品列表PRODUCTS LIST
本高低溫環(huán)境試驗設備可以用來考核和確定電工電子產品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
更新時間：2017-12-19
在線留言
高低溫環(huán)境試驗箱|高低溫試驗箱|恒溫試驗箱|恒溫箱|恒溫試驗機|低溫箱|低溫試驗箱
參 照 標 準
本高低溫環(huán)境試驗設備滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
高低溫環(huán)境試驗設備主要技術參數(shù)
l 型號： GDW－250D型
l 工作室尺寸（D×W×H）： 500×600×810㎜
l 外型尺寸（D×W×H）： 1150×900×1750㎜
l 溫度范圍： －60℃～150℃
l 溫度均勻度： ≤ 2℃ （空載時）
l 溫度波動度： ±0.5℃ （空載時）
l 溫度偏差： ≤±2℃
l 升降溫速率： 0.7℃～1.0℃/min
l 時間設定范圍： 0～999 小時
發(fā)郵件給我們：